IPS L
Przyrząd do pomiaru cząstek stałych o dowolnej koncentracji zawieszonych w cieczy (w wodzie lub roztworach wodnych). Przystosowany do pomiaru szlamu kwarcowego i płatków aluminiowych. Pozwala sterować produkcją betonu komórkowego.
Zakres pomiarowy: 0,5 - 500 um.

IPS U
Przyrząd do pomiaru wielkości drobnych cząstek substancji o sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Przystosowany do łatwych pomiarów gispu syntetycznego, cementu, wapnia i innych substancji.
Zakres pomiarowy: 0,5 - 600 um

IPS A
Przyrząd uniwersalny do pomiaru na sucho cząstek sypkich substancji w powietrzu, o nie sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Przystosowany do łatwych pomiarów piasku, węgla, popiołu i innych materiałów.
Zakres pomiarowy: 2 - 2000 um

AWK A
Przyrząd uniwersalny z automatycznym dozownikiem do pomiaru sypkich substancji o bardzo zróżnicowanej wielkości ziaren do pomiaru piasku, żwiru i innych materiałów.
Zakres pomiarowy: 50 um - 10 mm

AWK B
Unikalny przyrząd z automatycznym dozownikiem do pomiaru granulacji substancji charakteryzujących się dużą średnicą cząstek.
Zakres pomiarowy: 1 - 130 mm

SYSTEM MM
System do pomiaru uziarnienia materiałów mineralnych i określania krzywej uziarnienia w zakresie od 0,0005 do 130 mm.
Do optymalizacji tworzonych mieszanek MM w funkcji dowolnych parametrów.
Łączny zakres pomiarowy: 0,5 um - 130 mm.