|
|
W chwili obecnej tradycyjne techniki pomiarowe w laboratoiach geologicznych wypierane są przez nowczesne, elektroniczne analizatory, które pozwalają na poprawienie dokładności i kompleksowości badań przy jednoczesnym skróceniu czasu ich przeprowadzania.
Pomiar elektroniczny może wyeliminować większość błędów ludzkich, a w przypadku analizy sitowej niweluje także wpływ rozkalibrowania sit oraz wpływ zmian rozkładu ziarnistości na pomiar powierzchni właściwej zastępując dwie metody pomiarowe jednocześnie. |
| |
|
|
IPS L
Przyrząd do pomiaru cząstek stałych o dowolnej koncentracji zawieszonych w cieczy (w wodzie lub roztworach wodnych).
Pozwala na zastąpienie żmudnej analizy areometrycznej gruntu pomiarem elektronicznym.
Zakres pomiarowy: 0,5 - 500 um
|
| |
|
| |
|
|
IPS U
Przyrząd do pomiaru wielkości drobnych cząstek substancji o sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Pomiar uziarnienia frakcji spoistej.
Zakres pomiarowy: 0,5 - 600 um
|
| |
|
| |
|
|
IPS A
Przyrząd uniwersalny do pomiaru na sucho cząstek sypkich substancji w powietrzu, o nie sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Pomiar uziarnienia frakcji spoistej.
Zakres pomiarowy: 2 - 2000 um
|
| |
|
| |
|
 |
AWK A
Przyrząd uniwersalny z automatycznym dozownikiem do pomiaru sypkich substancji o bardzo zróżnicowanej wielkości ziaren.
Pomiar uziarnienia frakcji niespoistej.
Zakres pomiarowy: 50 um - 10 mm
|
| |
|
| |
|
 |
SYSTEM MM
System do pomiaru uziarnienia, który pozwala łączyć wyniki pomiarów z każdego naszego analizatora.
Łączny zakres pomiarowy: 0,5 um - 130 mm. |
| |
|
| |
|
| |
|
| Na stałe współpracujemy m.in. z: |
|
Wydziałem Geologii Uniwersytetu Warszawskiego |
| |
|
| |
|
|
|