KAMIKA Instruments

 
PRZYRZĄDY >
Metoda
English PycckuPolski
Na skróty
 
PRZYRZĄDY
AWK 3D - nowość !!!
LA 2004
IPS K
IPS Q
IPS P - nowość !!!
IPS SAM
IPS L
IPS LCW
IPS U
IPS AR
AWK D
AWK A
AWK B
SYSTEM MM
UCC
IPS CR
IPS T - nowość !!!
IPS W - nowość !!!
Uśredniacz - nowość !
 
ELSIEVE
METODA POMIARU
WYNIKI
POLITYKA JAKOŚCI
 
Wszystkie nasze urządzenia wykorzystują optyczne metody pomiarowe.
Sposób pomiaru analizatora jest złożony i polega na pomiarze sposobem "dyfrakcji laserowej" najmniejszych cząstek , by dla większych cząstek przejść stopniowo, w sposób ciągły, do pomiaru zmian strumienia promieniowania rozpraszanego przez poruszające się cząstki. W ten sposób uniknięto pewnych wad "dyfrakcji laserowej" stosowanej w pełnym zakresie pomiarowym, gdzie pojedyncze, największe cząstki dają słabe zmiany obrazu dyfrakcyjnego.
W analizatorach nie ma ograniczeń optycznych dla pomiaru pojedynczych małych i dużych cząstek.
W naszej metodzie pomiarowej strumień promieniowania laserowego widzialnego lub w podczerwieni, nie tylko identyfikuje wielkość cząstek, ale jeszcze pozwala je precyzyjnie zliczyć w całym zakresie pomiarowym.
 
 
 

Przestrzeń pomiarowa czujnika ukształtowana jest przez układy optyczne A i B, przez które emitowane jest z nadajnika promieniowanie świetlne w zakresie widzialnym lub podczerwieni. Jako nadajniki stosowane są diody laserowe lub IRED. Analizowane cząstki poruszające się w ośrodku powietrza lub cieczy, wlatując w obszar przestrzeni pomiarowej powodują, na skutek skomplikowanych zjawisk składających się sumarycznie na zjawisko rozproszenia, osłabienie strumienia świetlnego odbieranego przez fotodiodę. Miarą wielkości tego osłabienia jest, po przetworzeniu, amplituda sygnału elektrycznego uformowanego przez układ elektryczny. Amplituda ta po kalibracji sferycznej lub sitowej wyraża średnicę cząstki znajdującej się aktualnie w przestrzeni pomiarowej. W ten sposób liczymy i mierzymy każdą cząstkę.

 

Podczas pomiaru największym problemem może być zjawisko koincydencji (nakładania się) cząstek. Problem ten został rozwiązany przez bardzo precyzyjne dozowanie, sterowane przez komputer śledzący na bieżąco liczbę cząstek znajdujących się w przestrzeni pomiarowej.

 
 
Znajdź

Zakresy
 
Pobierz PDF
wersja do druku
 
Ulotka do odczytania w darmowym programie
Acrobat Reader
 
pobierz program
 
Newsletter
Zapisz
Rezygnuj
E-mail
 
 
 

KAMIKA Instruments
ul. Strawczyńska 16
ul. A. Kocjana 15
01-473 Warszawa
+48 (22) 666 85 68
+48 (22) 666 93 32
info@kamika pl


Strona główna | Oferta | Przyrządy | Aplikacje | O Kamika
Rejestracja | Mapa serwisu | Kontakt
Copyright © 2002- 2007 KAMIKA Instruments. All rights reserved. >>Administrator<<

Uwagi prawne